Prozesswärme

2. Konferenz zur Optischen Charakterisierung von Materialien

Vom 18. bis 19. März 2015 findet im Fraunhofer IOSB in Karlsruhe die 2. Internationale Konferenz zur Optischen Charakterisierung von Materialien (OCM-2015) statt. Während der Konferenz werden Trends und neueste Entwicklungen in der Charakterisierung von Materialien diskutiert. Besonderes Augenmerk gilt der Technologie zur Identifikation der "spektralen Signaturen" unterschiedlicherMaterialien und deren Einsatz in der Industrie.

Vom 18. bis 19. März 2015 findet im Fraunhofer IOSB in Karlsruhe die 2. Internationale Konferenz zur Optischen Charakterisierung von Materialien (OCM-2015) statt. Während der Konferenz werden Trends und neueste Entwicklungen in der Charakterisierung von Materialien diskutiert. Besonderes Augenmerk gilt der Technologie zur Identifikation der »spektralen Signaturen« unterschiedlicher Materialien und deren Einsatz in der Industrie.


Professor Rudolf Kessler aus Reutlingen wird am Beginn der Veranstaltung eine Keynote zum Thema Vor- und Nachteile der verschiedenen Technologien zur optischen Spektroskopie halten. Es wird erwartet, dass dies eine zunehmend wichtige Rolle auf dem Gebiet der Sensortechnik spielen wird, da mit dieser Methode chemische und morphologische Informationen gleichzeitig gewonnen werden können.


Die 2. Internationale Konferenz zur Optischen Charakterisierung von Materialien (OCM-2015) wird von dem Karlsruher Zentrum für Materialsignatur (KCM) in Kooperation mit dem deutschen »Institute of Electrical and Electronics Engineers« (IEEE) organisiert. Das KCM ist ein Zusammenschluss des Karlsruher Instituts für Technologie (KIT) und der Abteilung Sichtprüfung des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB).


Folgende Konferenzthemen stehen auf dem Programm:
· Lebensmittel Inspektion
· Kunststoff-Recycling
· Abfall Recycling
· Industrielle Lösungen
· Spektrale Datenverarbeitung
· Mineraliensortierung


Bereits am 17. März tagt von 9:00 – 17:00 Uhr im Fraunhofer IOSB das SpectroNet Kollaborationsforum 2015. Hier geht es um die nächste Generation mobiler, optischer Charakterisierung von Materialien mit photonischen Microsensoren und digitaler Bildauswertung.


Am Abend des 17. März findet die Eröffnungsveranstaltung der OCM statt. Ab 17:30 Uhr erwartet die Gäste eine Zusammenfassung des SpectroNet Forums und eine Präsentation zum Sonderthema: »Spektrale Signaturen von Lebensmitteln im täglichen Gebrauch«, welchem sich Fraunhofer insbesondere widmet und in einer neuesten Studie Ergebnisse verschiedener Einzeluntersuchungen vorstellen wird.


Weitere Informationen finden Sie unter: www.OCM-2015.eu

Verwandte Themen
Der große Sonderteil zum HärtereiKongress 2017 weiter
Interview mit Klaus Reisinger, Geschäftsführer der Emco-Test Prüfmaschinen GmbH weiter
Pyrometer mit erweiterter Signalverarbeitung weiter
Härtetester für mittelharte bis harte Materialien weiter
Vulkan Verlag & VDMA Metallurgy veranstalten „Brennertechnik an Thermoprozessanlangen“ weiter
EMO 2017 geht mit Rekordbeteiligung an den Start weiter